Studi akurasi difraktometer sinar X dengan jangkauan kenaikan sudut detektor 0,05 derajat

Abstract

Telah dilakukan eksperimen untuk mengetahui akurasi difraktometer sinar X Leybold Didactic GMBH yang telah dikembangkan dengan menambahkan perangkat pemutar sudut detektor 28 = 0,05° secara otomatis. Akurasi dilakukan dengan memvariasi arus dan tegangan tabung dan menggunakan monocrystal NaC1 dan polycgstal Ba06(Fe302) sebagai bahan uji. Hasil dianalisis dengan mengamati puncak-puncak difraksi tiap pergeseran sudut detektornya dan sudut 20 = 5° sampai 60° dengan waktu pencacahan tiap pergeseran 10 detik. Hasil pengujian pada difraktometer sinar X Leybold Didactic GMBH kemudian dibandingkan dengan hasil pengujian pada perangkat difraksi sinar X merk Shimadzu tipe XD-610 dan data standar intemasional JCPDS. Dan puncak-ptmcak difraksi juga dapat diprediksikan besamya nilai parameter kisi dan ukuran tebal pada kristal. Hasil eksperimen menunjukan bahwa difraktometer sinar X Leybold Didactic GMBH dapat digunakan untuk menganalisis struktur bahan monocrystal. Hasil terbaik diberikan pada pengoperasian arus tabung = 1mA dan tegangan tabung Vtab = 60 kV. Sedangkan untuk parameter kisi pada kristal NaC1 diperoleh nilai terbaik 0,394 nm dan ukuran ketebalan kristal dapat diprediksi sebesar 5,382 nm. The experiment has been done to determine accuration of Leybold Didactic GMBH X ray diffractometer was developed by adding angular detector movement instrument; corner 2 0 = 0,05° automatically. The accuration was conducted by variation of current and voltage tube and by using NaC1 monocrystal and Ba0.6(Fe302) polycrystal as samples. The results of analyzed by comparing &fraction peaks every friction of its detector angle; corner from the aspect from 2 0 = .5° to 60° with count time every friction 10 seconds. The experiment results of Leybold Didactic GMBH X ray diffi.actometer were compared by experiment result of XD-610 Shimadzu X ray di&actometer and international standard data of JCPDS. Diffraction peaks have been used to predict the lattice parameter value and thick size in crystal. The results of experiment indicate that Leybold Didactic GMBH X ray diffractometer can be used to analyse structure of monocrystal. The best results obtained with the operation current tube of lem = 1 mil and voltage tube of Viab 60 kV. While for the lattice parameter of AraC1 crystal was obtained by best value 0,394 nm and thick can be predicted equal to 5,382 inn.